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HY-105DS创新型测控技术综合实验平台

一、概述
1.创新型测控技术综合实验平台能满足传感器与检测技术课程群的实验需求,并且具有占用空间小、挂箱设计规范、互换性强,从基本实验到构成完整系统在一台实验装置上便可以全部实现。避免了不同课程需要不同实验装置、占用空间大、难以构成完整系统、不方便实施综合性和设计型实验的麻烦。
2.能适应不同专业和不同层次的教学需要,可按不同需求选择不同的配置,并可根据用户的要求增添实验挂箱。
3.实验装置能完成传感器与检测技术相关课程实验,通过实验能掌握各种传感器原理、信号处理电路及检测方法。
4.传感器部分:包括压力、压电、应变、电容、霍尔、温度、光敏、气敏(酒、C0)、电涡流、光纤位移、长光栅位移、差动变压器、光电耦合等各种常见传感器。
5.检测部分:利用工业实际中广泛采用的成熟电路完成对各种传感器信号的拾取、转换、调理、采样、存储、解算、控制及显示等处理电路,实验装置充分考虑抗干扰及可靠性技术的应用,学生可以学以致用。
6.通过使用本实验平台,有利于广大学生对书本知识的理解和深化,在完成传感器与检测技术等一系列基本实验后,便能掌握传感器与检测技术课程群所要求的基本原理、操作技能和动手能力。若再完成一个或几个综合型实验,则对系统有一个较为全面的认识,形成基本的解决实践问题的知识体系。如果能进一步完成设计型乃至创新型实验,则将形成解决实践问题的能力和积累解决实践问题的经验,进而培养其创新精神和创新能力。

二、特点
1.模块化设计:采用标准的模块化设计,增强系统的结构性和互换性。
2.总线标准:建立统一的内总线和接口约定,以实现最灵活的个性化配置、扩展和系统管理。
3.可更换的核心系统:为适应不同厂家的处理器、不同种类的处理器,通过改变系统核心卡来实现使用不同家族的单片机或者是不同种类的处理器(如MCU、DSP、ARM)等来组成系统。
4.快速连接线设计:提供三种连线方式
①采用金质缩紧孔单线接线;
②采用排线集中接线;
③自动免连线模式接线。各模块在设计时均融入三种连线方式于设计过程。
5.一机多用:采用实验现场与实验准备室相结合的设计构思,在实验装置上仅配备最常用的模块,在实验装置内放置次常用模块,在实验准备室中放置其他模块。由此实现了该实验装置能够实现一机多用、便于扩展和综合的目标。
6.接近工程实际:实验装置上采用多种工业型传感器,既可以用来完成传感器原理、结构与调理电路的教学,也可以用解决工业工程和过程中的实际问题。
7.学以致用:构成实验装置中的智能仪器的各模块,在其设计时充分体现实际系统的抗干扰设计技术和可靠性设计技术,其核心卡可作为实际智能仪器的核心单元。实验装置中信号转换与信号调理电路采用工业和工程实际中所采用的成熟电路。实验装置中使用的各种数字信号处理方法,采用典型的也是未来实践系统首选的数字信号处理手段,具有很强的工程实用特征。
8.持续发展:结合单片机、嵌入式单片、FPGA/CPLD、DSP及ARM知识可以将检测系统或智能仪器提高到更高的层次。
9.智能仪器仪表设计:结合工程实际给出了一个将常规仪器实现智能化的实例。
1 0.虚拟仪器仪表设计:结合数据采集卡设计虚拟仪器仪表。
11.研究与创新能力培养:实验装置中选用的几项综合型实验,是典型的检测仪表或工业应用系统的微型化,既能够使学习者领略检测技术的典型应用和掌握成熟可靠的检测系统的设计技术,又是培养和发挥学生创新能力、开展创新实验的实验平台。
l 2.开放式设计:实验装置中的软、硬件及系统均按照全开放的思想进行设计,以便于学生开展研究型和创新型的实验。
1 3.最小知识单元:为每个模块均可拆分到该知识层次的最小知识单元。
三、适用范围
实验台主要针对高校大学生课程设计、毕业设计和电子设计竞赛的开发平台,体现了灵活、开放、创新、综合、跨领域、跨专业的设计理念。其功能扩展模块覆盖了多个专业多门课程,适合电子类、通信类、自动化类、计算机类、机电类、测控仪器类等专业的学生进行综合、创新设计。
四、结构简介
本装置由控制屏,实验桌、活动挂箱及扩展模块、实验箱组成。实验台美观大方,尺寸可选;活动挂箱包括CPU挂箱、接口挂箱、对象挂箱、ARM挂箱、DSP挂箱;其功能扩展模块覆盖了多个专业多门课程,包含CPU类、通用接口类、人机界面类、信号变换隔离类、通信类、执行机构类、传感器类共40多项。
五、技术指标
1.输入电源:单相三线220V±10% 50Hz
2.工作环境:温度10℃~+40℃相对湿度<85%(25℃) 海拔<4000m
3.绝缘电阻:大于3MΩ
4.漏电保护:漏电动作电流不大于30mmA,动作时间不大于0.1秒
5.装置容量:<200VA
6.外形足寸:1620mm×680mm×1650mm。

六、实验项目
(一)  传感器实验项目
(1)金属箔式应变片一单臂电桥性能实验  
(2)金属箔式应变片一半桥性能实验 
(3)金属箔式应变片一全桥性能实验 
(4)直流全桥的应用一电子秤实验   
(5)交流全桥的应用一振动测量实验 
(6)扩散硅压阻压力传感器差压测量实验
(7)差动变压器的性能实验         
(8)激励频率对差动变压器特性的影响实验
(9)差动变压器零点残余电压补偿实验  
(10)差动变压器的应用一一振动测量实验 
(11)电容式传感器的位移特性实验
(12)电容传感器动态特性实验    
(13)直流激励时霍尔式传感器的位移特性实验
(14)交流激励时霍尔式传感器的位移特性实验
(15)霍尔测速实验 
(16)霍尔式传感器振动测量实验
(17)磁电式转速传感器的测速实验
(18)压电式传感器振动实验
(19)电涡流传感器的位移特性实验
(20)被测体材质、面积大小对电涡流传感器的特性影响实验
(21)光纤传感器的位移特性实验
(22)光电转速传感器的转速测量实验
(23)PTl0温度控制实验
(24)集成温度传感器AD590的温度特性验
(25)铂电阻温度特性实验
(26)K型热电偶测温实验
(27)E型热电偶测温实验
(28)气敏传感器实验
(29)湿敏传感器实验
(30)转速控制实验
选配模块实验:
(31)光栅尺测量实验 
(32)光电编码器实验
(33)环境噪声测量实验
(34)光照强度测量实验
(35)红外反射式传感器物件计数实验
(36)色标传感器颜色识别实验
(二)单片机实验项目
1、MCS-51单片机实验项目:
软件部分实验:
1.清零程序
2.拆字程序
3.拼字程序
4.数据区传送子程序
5.数据排序实验
6.查找相同数据个数
7.无符号双字节快速乘法子程序
8.多分支程序
9.多分支程序
10.电脑时钟实验
硬件部分实验:
1.P1口亮灯实      
2.P1口转弯灯实验
3.P3.3口输入,P1口输出实验            
4.工业顺序控制实验
5.8255 A、B、C口输出方波实验           
6.8255 PA口控制PB口
7.8255控制交通灯                       
8.简单I/O扩展实验
9.并行ADC 0809转换实验               
10.并行DAC 0832转换实验
11.8279键盘显示实验                   
*12.通用打印机实验
13.微型打印机实验                       
14.I2C储存卡读写实验
15.语音芯片ISD173控制实验(录音)      
16.语音芯片ISD1730控制实验(放音)
17.继电器控制实验                       
18.步进电机控制
19.8253方波实验                         
20.小直流电机调速实验
21.16*16 LED点阵显示实验    
22.128*64 LCD液晶显示实验
23.8250可编程异步通讯接口实验           
24.8251可编程通讯接口实验
25.单片机RS232/485串行发送实验         
26.单片机RS232/485串行接收实验
27.DS18B20单总线温度测量实验   
28.红外线遥控收发实验
29.串行A/D TLC549转换实验
30.串行10位D/A TLC5615转换实验
31.PCF8563  I?C日历时钟实验
32.MAX813看门狗实验
33.PWM脉宽调制实验
34.74LS164串并转换
35.74LS165并串转换                      
36.LM331 V/F转换实验
37.AT24C02  I2C总线存储器读写实验       
38.串行存储芯片93C46读写实验
39.电子音乐演奏实验                      
40.CAN总线通讯接口实验
41.以太网TCP/IP协议接口实验
42.USB2.0通讯接口实验
43.LM331 F/V转换实验                    
44.LM331 V/F转换实验
45.AD574 12位并行模数转换实验           
46.TLV5613 12位并行数模转换实验
47.4*4行列式键盘实验                    
48.8位静态显示器实验
49.8位动态显示器实验                    
50.光耦隔离模块实验
51.模拟十字路口交通灯实验
2.嵌入式单片机(C8051)实验
(1) 数字I/O口交叉开关设置实验     
(2) UART串能通讯实验
(3) 配置内部和外部振荡器实验        
(4) 片内模数转换(ADC)实验
(5) I/O输入、输出实验    
(6) 片内数模转换(DAC)实验(7) 定时器实验              
(8) SRAM外部数据存储器扩展实验
(9) 外部中断实验         
(10) SPI串行Flash存储器数据读写实验
(11) 计数器实验
3.DSP实验
 A、验证性实验
(1)CCS操作实验
(2)存储器实验
(3)跑马灯实验
(4)数码显示实验
(5)硬件中断实验
(6)定时器实验
(7)步进电机控制实验
(8)DSP同步串口与计算机的串口(RS232)通讯
(9)DSP的HPI与计算机的并口(EPP)通讯
(10)向量相加、减实验
(11)矩阵相乘
(12)浮点数到Q15、Q15到浮点数数据转换
(13)FIR滤波器实验
(14)IIR滤波器实验
(15)黑白图像采集实验
B、综合性实验:
(16)液晶显示实验
(17)简单数字存储示波器实验
(18)同步串口(16位AD、DA)实验
(19)HPI接口实验
(20)自适应滤波器(DLMS)实验
(21)卷积(convole)算法实验
(22)自相关算法
(23)互相关算法
(24)语音录、放实验
(25)实时IIR滤波器实验
(26)图像处理之图像取反
(27)图像处理之灰度阈值变换
C、设计性实验
(28)直流伺服电机测速控制实验
(29)温度传感器、液晶显示实验
(30)HPI接口BOOTLOAD实验
(31)在线FLASH烧写及16或8位并行自举
(32)快速傅立叶变换(FFT)算法实验
(33)信号采集、存储、传输(PC机与DSP)实验
(34)温度、速度双闭环控制电机
(35)键盘输入液晶显示实验
(36)语音FIR滤波(低通、高通、带通、带阻)实验
(37)实时LMS滤波器实验
(38)FFT实验
D、创新性实验
(39)声控电机实验
(40) 语音G711编码、解码实验
(41)语音G723编码、解码实验
(42)图像处理之灰度窗口变换
(43)图像处理之对比度增强
(44)YUV彩色图象处理之图象取反实验
4.ARM9实验项目
基础实验:
(1)安装WINCE并建立开发环境      
(2) 建立并编译WIN CE平台      
(3)WINDOWS CE的烧写   
(4)定制SDK并建立EVC下的开发环境   
(5)定制增强型内核   
(6)建立宿主机与实验箱的连接      
(7)继电器实验   
(8) 蜂鸣器实验   
(9)DIP实验      
(10)IIC总线-温度实验   
(11) IIC总线-EEPROM实验   
(12) IIC总线-DA实验    
(13)EXTKEY中断程序      
(14)GPIO LED实验      
(15)LED点阵实验      
(16)EVC下的HELLO WORLD实验      
(17) 液晶屏坏点测试程序      
(18) 录音机测试程序      
(19) 简单聊天室程序(CE版)      
(20) 视频点播VOD实验 
(21)CEPLAYER播放器实验      
(22) 串口通讯测试程序(对话框版)
扩展实验:   
(23)485通讯程序      
(24) GPS实验   
(25) 电机实验   
(26) 射频卡实验      
(27) 摄像头图像采集实验      
(28) GPRS实验   
(29) ZIGBEE实验      
(30) 指纹实验   
(31) CAN总线通讯实验   
 5.综合类实验
(1)键盘、LED发光管实验
(2)行列式键盘、动态显示实验
(3)单片机控制的PWM实现D/A转换 
(4)单片机控制PWM实现F/V转换 
(5)测量电机转速实验
(6)单片机控制电机转速实验(D/A)
(7)单片机控制电机转速实验(PWM)
(8)温度采集实验
(9)IC卡原理实验 
(10)考勤机实验
(11)身份认证实验
(12)门禁系统设计
(13)单片机实现Pc机键盘控制器实验 
(14)用单片机实现高精度脉冲测频
(15)单片机实现的线性V/F转换实验
(16)基于微机控制通信的单片机通用数据采集系统
(17)基于以太网的远程数据采集系统
(18)IC系统实验
(19)R8485总线实验
(20)简单多任务实时操作系统实验
(21)智能家居远程控制模拟系统设计
(22)单片机以太网实验
(23)远程抄表系统
(24)基于USB的数据采集卡设计
(25)家庭智能报警系统
 6.信号与系统部分
(1)基本运算单元实验
(2)阶跃响应与冲激响应实验
(3)连续时间系统的模拟实验
(4)有源、无源滤波器实验
(5)抽样定理与信号恢复实验
(6)二阶网络状态轨迹的显示实验
(7)一阶电路的暂态响应实验
(8)二阶电路的暂态响应实验
(9)二阶电路传输特性实验
(10)二阶网络函数的模拟实验
(11)矩形脉冲信号的分解实验
(12)矩形脉冲信号的合成实验
(13)谐波幅度对波形合成的影响实验
(14)面包板单元,可自行设计实验电路。
 7.自控原理与计算机控制
(1)计算机控制技术实验项目
(1)A/D,D/A转换
(2)采样保持器
(3)数字滤波 
(4)积分分离式PID控制
(5)最小拍有纹波系统实验
(6)最小拍无纹波系统实验
(7)大林算法控制
(8)非线性控制
(9)解耦控制
(10)综合控制实验
(2)自动控制原理实验项目
1.典型环节的模拟研究                  
2. 典型系统瞬态响应和稳定性
3.系统校正                            
4. 控制系统的频率特性
5.典型非线性环节
6. 非线性系统(一)
7.非线性系统(二)  
8. 采样系统分析
9.采样控制系统的校正    
l0. 状态反馈(极点配置)
(3)控制系统实验项目
1.直流电机闭环调速实验
2.温度闭环控制实验
3.步进电机调速实验
8.测控电路实验
1.差动放大器实验;                  
2.信号放大器实验;
3.信号运算电路实验;                 
4.电压比较器实验;
5.电阻链分相细分实验;               
6.幅度调制及解调实验
7.调相电桥实验;
8.脉宽调制电路实验;
9.调频及鉴频实验; 
11.开关式相乘调制及解调实验;  
12.精密整流全检波实验;
13.开关式全波相敏检波实验。
七、配置清单:

序号

名称

单位

数量

备注

1

实验控制屏

1


2

实验桌

1



3

实验模块挂箱

1

传感器由多种传感器和信号调理模块

控制器单元挂箱

信号转换单元挂箱

通信与打印机单元挂箱

键盘与显示单元挂箱

对象控制单元挂箱(一)

对象控制单元挂箱(二)

Cortex-A8 单元挂箱

信号与系统实验挂箱

自控原理与计算机控制挂箱

测控电路实验挂箱模块

DSP CPU 挂箱

4

常用工具

1

一字螺丝刀 1 把;十字螺丝刀 1 把;剥线钳 1 把;尖嘴钳 1 把。

5

实验说明书

1

指导学生实训



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